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S-DSR探測器光譜響應(yīng)測試系統(tǒng) ? 寬光譜范圍（200~14000nm可選），適用面廣 ? 調(diào)制法測量技術(shù)，提升測量結(jié)果信噪比 ? 開機(jī)即用的Turnkey系統(tǒng)設(shè)計(jì)，維護(hù)簡單 ? 監(jiān)視光路，方便樣品定位 ? 全反射光路設(shè)計(jì)，優(yōu)化光斑質(zhì)量 ? 高穩(wěn)定性光源，降低背景噪聲影響 ? 標(biāo)準(zhǔn)測量軟件，數(shù)據(jù)導(dǎo)出格式支持第三方軟件
光譜變溫附件/探針臺 THMS600 是使用.為廣泛的高精度冷熱臺。其寬泛的溫度范圍（-196°C到 600°C）和升溫速 率（0.1 到 150°C/min），以及高精度（全程 0.1°C）和高穩(wěn)定（0.01°C），使其在各行業(yè)得 到廣泛的應(yīng)用。
波銘科儀銷售的多種SERS增強(qiáng)試劑、SERS芯片，均是經(jīng)過嚴(yán)格反復(fù)試驗(yàn)、驗(yàn)證、摸索制備而成，各項(xiàng)性能指標(biāo)都很優(yōu) 良，能滿足大多數(shù)生物分子、染料分子及其他分析物分子的拉曼檢測，穩(wěn)定性高，拉曼增強(qiáng)效應(yīng)強(qiáng)。
QE-2000熒光量子效率測試系統(tǒng)瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域 的雜散光。
S-MPL系列顯微熒光成像系統(tǒng) 光致發(fā)光（photoluminescence）即PL，是用紫外、 可見或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光，在半 導(dǎo)體材料的發(fā)光特性測量應(yīng)用中通常是用激光（波 長如325nm、532nm、785nm等）激發(fā)材料（如 GaN、ZnO、GaAs等）產(chǎn)生熒光，通過對其熒光光譜（即PL譜）的測量，分析該材料的光學(xué)特性，如禁帶寬 度等。
組合熒光系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)，既可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)態(tài)、瞬態(tài)測量，又能實(shí)現(xiàn)UV-VIS-MIR的寬范圍測 量。組合熒光系統(tǒng)多種部件可供選擇（光源、探測器、樣品架、變溫模塊等），能針對研究者實(shí)驗(yàn)的不 同需求量身打造為合適的熒光光譜系統(tǒng)。
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