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OPTM 系列显微分光膜厚仪 测量项目： ? 绝.对反射率测量 ? 多层膜解析 ? 光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）
● 可测从0nm开始的低（残留）相位差 ● 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) （相当于世界jie最zui快速的0.1秒以下来处理） ● 无驱动部，重复再现性高 ● 设置的测量项目少，测量简单 ● 测量波长除了550nm以外，还有各种波长 ● Rth测量、全quan方位角测量 （需要option的自动旋转倾斜治具 ● 通过与拉伸试验机组合，可同时评价膜的偏光特性和光弾性 (本系统属特注。）
●与产线的控制信号同步 ●通过光纤的自由的测试系统 ●实现最短2ms～的光谱测量（LE-5400） ●同以往的产品相比，测量演算评价1个周期有可到半分钟以下的高速机型
可以测量0.01%或更低的单线态氧的产生量子产率。 单线态氧 (1270 nm) 的简单直接光谱观察 可在用于生物应用等的水性溶剂中测量。
采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可测量， 对应CIE推荐的宽波长范围（355 nm至835 nm） 独du特光学系统降低偏振误差（1％）， 并且像LCD一样具有偏振特性的样品也可以进行高精度测量 可以执行最短1秒的高速测量，包括通信时间。 （在连续测量的情况下，可以更快的进行测量，最短约20毫秒/次）
测量精度高 可瞬间测量绝对量子效率（绝对量子收率） 可去除再激励荧光发光 采用了积分半球unit，实现了明亮的光学系统
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