男朋友找他朋友一起上我,少爷托着娇乳撞击娇吟,正面偷拍女厕36个美女嘘嘘,亚洲色欲色欲WWW在线成人网

Product Center

产品中心

当前位置：首页  >  产品中心  >  半导体材料测试  >  体微缺陷测试

  • SIRM红外体微缺陷分析仪

    SIRM是非接触和非破坏型光学检测设备，对体微缺陷，如氧化物和金属沉淀，位错、堆垛层错，体材料中的滑线和空隙等进行测试。 这个技术也可对GaAs 和 InP等复合材料进行测试。

    更新日期：2024-09-26
    型号：
    厂商性质：生产厂家
  • LST体微缺陷测试设备

    LST是检测半导体材料的体微缺陷有力工具，通过CCD相机，对入射光在样品边沿的散射进行扫描，获得体微缺陷分布信息。

    更新日期：2024-09-26
    型号：
    厂商性质：生产厂家
共 2 条记录，当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
全国客服
咨询热线 021-61052039 在线留言

公司地址：上海市浦东新区叠桥路456弄创研智造J6区202室
公司邮箱：qgao@buybm.com

微信客服
Copyright©2024 上海波铭科学仪器有限公司 版权所有    备案号：沪ICP备19020138号-2    sitemap.xml    技术支持：化工仪器网    管理登陆