男朋友找他朋友一起上我,少爷托着娇乳撞击娇吟,正面偷拍女厕36个美女嘘嘘,亚洲色欲色欲WWW在线成人网

Product Center

产品中心

当前位置：首页  >  产品中心  >  半导体材料测试  >  CV测试

  • LEI Model2017B汞探针测试

    LEI Model2017B，通过汞探针接触方法，对各类半导体材料的载流子浓度分布进行测试，特别适合GaN.SiC等化合物材料。

    更新日期：2024-09-26
    型号：LEI Model2017B
    厂商性质：生产厂家
  • 汞CV测试系统

    汞CV测试系统，用于对外延或前道工艺中的non-pattemed晶片做汞C-V测试; MCV-530L可测最大200mm的样品。

    更新日期：2024-09-26
    型号：
    厂商性质：生产厂家
  • CV-1500非接触CV测试系统

    CV-1500，用于测试界面和介电层的科研平台，基于SDI Corona-Kelvin技术，可以进行非接触C-V/I-V测试。

    更新日期：2024-09-26
    型号：
    厂商性质：生产厂家
共 3 条记录，当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
全国客服
咨询热线 021-61052039 在线留言

公司地址：上海市浦东新区叠桥路456弄创研智造J6区202室
公司邮箱：qgao@buybm.com

微信客服
Copyright©2024 上海波铭科学仪器有限公司 版权所有    备案号：沪ICP备19020138号-2    sitemap.xml    技术支持：化工仪器网    管理登陆